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Abstract

Interferometry is a useful tool to separate planets from their parent star.  In addition to make a direct detection (by a snapshot image or by visibility measurements), it can be used to provide an indirect characterization the planetary systems (their architecture, star-planet interaction etc) in different ways such as astrometry and stellar surface imaging.  A comprehensive prospective review of all these approaches is given.

Documents annexes

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• Texte complet en PDF/Full text in PDF (730k)

Pour citer cet article :

J. Schneider. «The benefits of interferometry for the characterization of extrasolar planetary systems». Bulletin de la Société Royale des Sciences de Liège, Volume 74 - Année 2005  Numéros 1-2- 3 : 57-71
http://popups.ulg.ac.be/SRSL/document.php?id=323

Quelques mots à propos de :  J.  Schneider

Observatoire de Paris - F92195 Meudon, France

  affiliation : Observatoire de Paris - F92195 Meudon, France

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